アドバンテスト 中国SJ Semiconductor社と「T5830」メモリ・テスト・システムの ボリューム購入契約を締結



中国SJ Semiconductor社と「T5830」メモリ・テスト・システムの ボリューム購入契約を締結 2017/12/12 Topics

SPI NORフラッシュ・メモリのテスト・ソリューションを提供

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、この度、MEOL(Mid-End-of-Line)半導体試験サービス会社である中国SJ Semiconductor(中芯長電半導体)社(以下SJ Semi社)と、「T5830」メモリ・テスト・システムのボリューム購入契約を締結しました。SJ Semi社は、「T5830」を急成長している有機ELディスプレイやタッチパネル・ディスプレイ向けの、SPI(シリアル・ペリフェラル・インタフェース) NORフラッシュ・メモリの試験に使用します。

SJ Semi社CEOのCui Dong氏は、「今回アドバンテストと戦略的な契約を結ぶことができ、とても嬉しく思います。メモリ市場、特により複雑な3次元IC市場でのビジネス拡大に向け、引き続き良いパートナーシップを続けていけることを楽しみにしています」と述べています。

SJ Semi社は、既に高速デジタルや高精度アナログの試験用にアドバンテストの「V93000」SoCテスト・システムを使用しており、今回初めてアドバンテストのメモリ・テスト・システムも導入します。

2016年に販売を開始した「T5830」は、モバイル機器に広く使われているフラッシュ・メモリを大量に、低コストで試験するための製品です。少ピンから多ピンまで幅広いデバイスの、ウエハ試験と最終パッケージ試験を行うことができるため、投資回収効率がよく、顧客の投資リスクを低減します。

アドバンテスト独自のTester-per-SiteTMアーキテクチャを採用し、各サイトが独立して動くことにより、極めて速いテスト・タイムとテスト・コスト削減を実現しています。また、スケーラブルな高電流プログラマブル電源も内蔵しています。

「T5830」は、800Mbpsのデータ転送にも対応すると共に、最大2,304個同時測定(デジタル4ピン・デバイス測定時)が可能です。SPI NORフラッシュ・メモリの他にも、NANDフラッシュ・メモリ、スマート・カード、SIMカード、EEPROMおよびその他のエンベデッド・フラッシュ・メモリを試験することができます。

「T5830」には、生産用とエンジニアリング用の2種類があり、量産用としても評価用としても使用することができます。また他の「T5800」シリーズ製品との互換により、高い信頼性と拡張性を誇ります。

「T5830」は、明日12月13日から15日まで、東京ビッグサイトで行われる展示会「SEMICON Japan」で展示されます。

SJ Semiconductor(中芯長電半導体)社について

中国江蘇省江陰市にあるSJ Semiconductor社は、2014年8月に、中国SMIC(Semiconductor Manufacturing International Corporation, 中芯国際集成電路製造)社と中国JCET(Jiangsu Changjiang Electronics Technology Co., Ltd., 長電科技)社の合弁会社として設立されました。その後、中国CICIIF(China Integrated Circuit Industry Investment Fund Co., Ltd, 中国国家IC産業投資基金)社と米Qualcomm社の子会社であるQGT(Qualcomm Global Trading PTE. Ltd.)社の出資を受けています。300mmウエハのバンピングとウエハ試験をはじめとした、ウエハ製造とパッケージングの間をつなぐ良質なMid-End-of-Line (MEOL) サービスを国内外の顧客に提供しています。詳しくはhttp://www.sjsemi.com/をご覧ください。

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